Pierwsze
posiedzenie Sekcji Aparatury i Systemów Pomiarowych odbyło się 15
stycznia 2004 roku. Dzięki uprzejmości Dziekana Wydziału Mechatroniki
Politechniki Warszawskiej Prof. dr hab. inż. Jerzego Kurka spotkanie
odbyło się właśnie w gmachu tego Wydziału. Udział w spotkaniu wzięły
24 osoby w tym 20 członków Sekcji a także Przewodniczący Komitetu
Metrologii i Aparatury Naukowej Prof. Eugeniusz Ratajczyk oraz Vice-przewodniczący
tego Komitetu Prof. Michał Szyper.
Po przywitaniu uczestników
spotkania przez Przewodniczącego Sekcji, głos zabrał Prof. E. Ratajczyk,
który przywitał uczestników zebrania oraz krótko naświetlił cele i
zadania Komitetu Metrologii oraz poszczególnych jego Sekcji. Następnie
wręczył wszystkim Członkom akty powołania do Sekcji na kadencję 2003
- 2006r. Waga tych powołań wynika z faktu, że członkostwo w Sekcji
pochodzi z wyboru, a powołanie następuje w efekcie tajnego głosowania
przeprowadzonego wśród Członków Komitetu Metrologii.
W ramach części roboczej
tego spotkania został przedstawiony referat pt. "Wykorzystanie
fuzji danych w projektowaniu eksperymentu pomiarowego" wygłoszony
przez dr inż. Ryszarda Srokę z Katedry Metrologii AGH, członka Sekcji
AiSP. Prezentację związaną z tym referatem można znaleźć na tej stronie
internetowej. Po wysłuchaniu referatu uczestnicy spotkania wzięli
udział w dyskusji dotyczącej poruszanych zagadnień oraz możliwości
wykorzystania prezentowanych metod do przetwarzania wyników pomiarowych.
W dalszej części zebrania
Przewodniczący Sekcji przedstawił w zarysie plan pracy Sekcji w bieżącej
kadencji. Dyskusja prowadzona aż do zakończenia posiedzenia dotyczyła
form działania i organizacji pracy Sekcji oraz zagadnień merytorycznych,
które zdaniem uczestników dyskusji powinny znaleźć swoje odbicie w
referatach prezentowanych na kolejnych spotkaniach. W szczególności
zwrócono uwagę na następujące zagadnienia:
- obrazowanie w systemach pomiarowych i diagnostycznych stosowanych
w biopomiarach,
- metrologia w biomedycynie,
- metrologia w technikach wojskowych,
- dydaktyka systemów pomiarowych.
W zakresie spraw organizacyjnych
ustalono, że kolejne spotkania będą planowane w taki sposób, aby
odbywały się w pierwszy czwartek wybranego miesiąca. Rozważano również
możliwość organizowania raz w roku dwudniowego spotkania Sekcji
w Krynicy, połączonego z Sympozjum Modelowanie i Symulacja Systemów
Pomiarowych, które jest corocznie organizowane we wrześniu przez
Katedrę Metrologii. W tej sprawie Członkowie Sekcji obiecali się
wypowiedzieć za pośrednictwem poczty elektronicznej.
Na tym pierwsze posiedzenie Sekcji AiSP w kadencji 2003 - 2006
zostało zakończone.
|
